（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201911396726.0 （22）申请日 2019.12.30
（71）申请人 上海华岭集成电路技术股份有限公司
地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼
（10）申请公布号 CN111308318A
（43）申请公布日 2020.06.19
（72）发明人 张杰;牛勇;周建青;李东;王锦 （74）专利代理机构 上海海贝律师事务所
代理人 宋振宇
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种半导体芯片测试数据处理方法
（57）摘要
本发明公开了一种半导体芯片测试数据处
理方法，1)工程师配置针对每个产品配置相应的算法及相关的参数；2)生产系统进行数据收集，包括但不限于Map图、ATE测试数据；3)系统根据工程师配置的算法处理相应的数据及Map图，并生成最终的Map；本发明提供的半导体芯片测试数据处理方法，利用本方案可以提高生产质量，降低高风险芯片流入后续生产流程的可能性，降低生产成本。
法律状态
法律状态公告日
2020-06-19 2020-06-19 2020-07-14
公开 公开
实质审查的生效
法律状态信息
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法律状态
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权利要求说明书
一种半导体芯片测试数据处理方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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