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同时偏振成像探测系统的光学结构[实用新型专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:同时偏振成像探测系统的光学结构专利类型:实用新型专利发明人:李双,裘桢炜,杨长久申请号:CN201020062476.5申请日:20100113公开号:CN2015659U公开日:20100922

摘要:本实用新型公开了一种同时偏振成像探测系统的光学结构,采用分振幅模块和偏振分析模块的结合,共同使用一套光学系统和一个CCD探测器,通过一次测量即可同时获取同一场景的四幅偏振辐射图像,解决了时序测量法和空间匹配测量法存在的问题。没有运动部件,可提高仪器偏振测量精度。此装置非常适合用于快速事件的偏振探测。而且采集的数据量大,仪器操作简单,实现了智能化。在遥感、环境监测等方面有着广泛的应用前景。

申请人:中国科学院安徽光学精密机械研究所

地址:230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号1125信箱

国籍:CN

代理机构:安徽合肥华信知识产权代理有限公司

代理人:余成俊

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