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一种高精度的试样尺寸测量系统[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种高精度的试样尺寸测量系统专利类型:发明专利发明人:王健,孟祥友,马世国申请号:CN201510654846.1申请日:20151012公开号:CN105157582A公开日:20151216

摘要:一种高精度的厚板试样尺寸测量系统,包括由上到下依次安装的试样对中位移机构、连接机构、试样测量机构、试样夹持机构以及试样测量驱动机构;试样对中位移机构包括:传动板、旋转销、中光轴、短光轴和长光轴,中光轴的末端与试样夹持机构连接并紧固,中光轴的中段与试样夹持机构连接,中光轴的上端与连接机构连接,连接机构固定在试样测量机构上,中光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;短光轴的末端通过连接机构与试样测量机构固定,短光轴的上端通过旋转销与传动板连接;长光轴在中段与试样夹持机构连接并紧固,在下端和上端分别与试样夹持机构和试样测量机构连接,长光轴的顶端通过旋转销与传动板连接;短光轴位于中光轴和长光轴的间距中心。

申请人:济南时代试金试验机有限公司

地址:250000 山东省济南市经济开发区时代路219号

国籍:CN

代理机构:济南泉城专利商标事务所

代理人:郭禾苗

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