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专利名称：一种具有孔结构的光学片的检测系统专利类型：实用新型专利发明人：罗羽柱,黄盛敦,李基旭申请号：CN201922431211.1申请日：20191230公开号：CN211402172U公开日：20200901
摘要：提供一种具有孔结构的光学片的检测系统，包括：产品供给部，用于供给具有多个光学片的光学片原材料，各光学片具有已完成冲裁的孔结构；感应部，用于向产品供给部供给的光学片照射光，并采集光透过光学片后的光亮度信息以及光学片图像；不良检测部，用于接收感应部采集到的光亮度信息以及光学片图像，并根据明暗差异以及光学片的形状来确认出不良光学片；产品收集部，用于收集完成了不良检测的光学片原材料。本申请可利用自动检查系统来容易检测光学片的孔结构的按压、变形等不良，并且可同时检测出由异物引起的不良和孔结构的不良，因此能够有效减少检查所需的时间。
申请人：苏州乐贸星光电有限公司
地址：215200 江苏省苏州市吴江经济技术开发区五方路88号
国籍：CN
代理机构：北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：朴英淑
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