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专利名称：芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法专利类型：发明专利发明人：王锐,娄建和,吴彩平申请号：CN202011515315.1申请日：20201218公开号：CN11268A公开日：20210416
摘要：本发明公开一种芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法，包括归类针卡分布图，为每一类分布图配置对应的驱动程序；根据归类情形制作包含所有驱动程序的列表和批处理文件；执行批处理文件，选择驱动程序编号，批处理程序则自动向测试机主机操作系统注册所用的探针台驱动；空跑CP测试，得到探针台晶芯坐标和测试机晶芯坐标，进行坐标比对，确认无误后，进行晶圆CP量产测试。采用本发明的驱动配置方法，可保证CP测试坐标完全匹配、测试机台从探针台可获取正确的晶圆位置坐标，进而可以正常进行芯片晶圆的CP测试；采用一个批处理即可处理9类驱动注册的方式，简化了操作人员的操作，且节省测试成本。
申请人：江苏艾科半导体有限公司
地址：212000 江苏省镇江市潘宗路166号
国籍：CN
代理机构：南京申云知识产权代理事务所(普通合伙)
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