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一次编程存储器的制造方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一次编程存储器的制造方法专利类型:发明专利发明人:燕健硕

申请号:CN2004100233.X申请日:20041208公开号:CN1787207A公开日:20060614

摘要:本发明公开了一种一次编程存储器的制造方法。本发明的一次编程存储器的制造方法,主要用于半导造工艺的优化,提高半导体的芯片集成度。其主要是在硅基板上刻出槽后,形成电容介质膜,再以多晶硅填满沟槽,在硅基板中形成立体的电容。减少了占用的硅表面积,提高芯片的集成度。

申请人:上海华虹NEC电子有限公司

地址:201206 上海市浦东川桥路1188号

国籍:CN

代理机构:上海浦一知识产权代理有限公司

代理人:丁纪铁

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